名字 | 邹世昌 |
解析 | 邹世昌 【介绍】: 技术科学部学部委员。 材料科学家。男,1931年7月出生,江苏太仓人。 中国科学院上海冶金研究所研究员。 1952年唐山交通大学冶金工程系毕业,1958年获前苏联莫斯科有色金属学院副博士学位。 主要贡献:在国防重点任务研制甲种薄膜项目中负责加工成形部分工作,获国家发明一等奖(排名第二)。在离子束材料改性、合成、加工和分析等方面进行了系统的研究工作,先後在国内外发表论文114篇。 研究离子注入损伤及退火行为,提出了用二氧化碳激光从背面照射进行退火及合金化的新方法。用全离子注入技术研制成我国第一块120门砷化镓门阵列电路。合成了SOI材料和新型CMOS/SOI电路。在溅射、损伤和貌相变化等研究的基础上,用反应离子束微细加工闪耀全息光栅,是光栅制造技术的重大突破。发展了离子束增强沉积并合成了氮化矽、氧化钛薄膜。开展了高分子材料离子束表面改性的研究。 获国家科技进步三等奖一次。被推选为国际上离子束领域两个主要学术会议国际委员会委员。 (1992年新增学部委员) |
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